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      bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

      簡要描述:bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100
      具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。
      該系統占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉(WLI)創新技術,具有強大的二維/三維高分辨測量能力

      • 所在城市:上海市
      • 廠商性質:經銷商
      • 更新日期:2022-04-01
      • 訪  問  量:90
      詳細介紹
      品牌其他品牌價格區間20萬-50萬
      產地類別進口應用領域綜合
      品牌bruker型號ContourX-100

      bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

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      具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。


      該系統占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉(WLI)創新技術,具有強大的二維/三維高分辨測量能力。


      新一代增強功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺,實現更多縫合功能,并新增一個測量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦學應用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱性價比高的臺式系統。


      計量能力

      ContourX-100 輪廓儀是布魯克40多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領域專有光學創新的結晶。


      該系統利用三維 WLI 和二維成像技術,一次采集可執行多次分析。


      ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發揮穩定性能。


      價值和分析



      ContourX-100 臺式可執行數千種自定義分析,并采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面,提升了實驗室和工廠的生產效率。


      軟硬件結合,實現簡便操作下的高效率光學性能,全面超越同類計量技術。



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