賽默飛 ARL EQUINOX 100 X射線衍射儀

賽默飛 ARL EQUINOX 100 X射線衍射儀是一款配有獨特EQUINOX弧形探測器的便攜臺式 衍射儀，可在寬角度范圍內同時測量所有的衍射 峰。因此EQUINOX 100比其它衍射儀具有更快 的測試速度。不論您對分辨率如何要求,僅需幾分鐘即可完成對大多數樣品的完整分析。

賽默飛 ARL EQUINOX 100 X射線衍射儀的小體積優勢得益于水冷系統完全集成在設備內部。它的性能完全滿足實驗室對于簡單又功能強大的衍射儀需求。儀器配有多種樣品架，如：6位自動進樣器、粉末透射樣品架及薄膜樣品附件。

• 實時采集

• 操作方便

• 無需校準

• 非?？煽?/p>

• 超高分辨率

• 無需維護

·高強度微聚焦光源

微聚焦X射線源采用低功率X射線管，卻能產生高強度的X射線。這是由于該設計利用了透鏡系統對入射的X射線進行聚焦。因此，即使在低功率下，與樣品發生衍射的X射線光通量仍然比傳統XRD系統高很多。
X射線光通量接近標準X射線管
使用聚焦鏡以產生更高的光強度
聚焦鏡將光束聚焦于樣品，具有更高的能量效率
光斑尺寸約5 mm x 300 µm
聚焦幾何設計

·實時同步數據采集

賽默飛提供的超大面積實時探測器具備獨特的采譜方式，可同步采集所有的衍射數據。用戶可以實時地進行粉末、塊體以及薄膜材料相關的衍射實驗，不僅提高了測試速度，而且非常適合進行動態研究。

·動態研究

在研究材料的物理或化學特性與溫度、環境、壓力或者其他因素的變化關系時，需要對其晶體結構進行實時的動態測試。
當材料發生相變時，就可以使用賽默飛的超大面積實時探測器技術進行觀測。
該探測器可以同步采集異常復雜的XRD譜圖，保證了不會遺漏實驗過程中發生的任何物相變化，特別是當材料中存在不穩定化合物時。

·薄膜應用

X射線掠入射衍射可以對薄膜樣品進行物相、織構分析或者對沉積在特定基體上的薄層晶體進行結構測定。而X射線反射測量則可以對薄膜的物理性質例如層厚、表面粗糙度進行表征。