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      爾迪科普|X射線熒光光譜儀相關專業名詞解釋一(xrf)

      發布時間:2021-07-13瀏覽:1627次

      科普篇|X射線熒光光譜儀相關專業名詞解釋一Xrf

      1.XRF

      XRF是指X射線熒光光譜分析。X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。

      XRF優點:

      對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。

       

       

      測試速率高,可以在較少時間內進行大量樣品測試,分析結果可以通過計算機直接連網輸出。

       

       

      分析速度較快。

       

       

      對于純金屬可采用無標樣分析,精度能達分析要求。

       

       

      不需要專業實驗室與操作人員,不引入其它對環境有害的物質。

       

       

      HHXRF :手持式X射線熒光分析儀

      PXRF : 便攜式X射線熒光分析儀

       

      2.WDXRF

      波長色散型X射線熒光光譜法。樣品被入射X射線激發產生的熒光X射線,經分光器色散后,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線熒光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測元素含量報告的X射線熒光光譜分析儀器。相比較于利用能量色散型X射線熒光光譜法的分析儀,其價格更加昂貴。

       

      3.EDXRF

      能量色散型X射線熒光光譜法。根據元素輻射x射線熒光光子能量不同,經探測器接收后用脈沖高度分析器區別,進行元素鑒定;根據分析線脈沖高度分布的積分強度.進行元素定量的分析方法??焖?、經濟的X射線熒光技術,普遍被運用在手持式的X射線熒光分析儀中。

       

      4.X射線管

      兩種類型的X射線熒光光譜儀都需要用X射線管作為激發光源。燈絲和靶極密封在抽成真空的金屬罩內,燈絲和靶極之間加高壓(一般為50kV,燈絲發射的電子經高壓電場加速撞擊在靶極上,產生X射線。X射線管產生的一次X射線,作為激發X射線熒光的輻射源,X射線管產生的X射線透過鈹窗入射到樣品上,激發出樣品元素的特征X射線,正常工作時,X射線管所消耗功率的0.2%左右轉變為X射線輻射,其余均變為能使X射線管升溫,因此必須不斷的通冷卻水冷卻靶電極。

      5.分光系統

      分光系統的主要部件是晶體分光器,它的作用是通過晶體衍射現象把不同波長的X射線分開。根據布拉格衍射定律2dsinθ=nλ,當波長為λX射線以θ角射到晶體,如果晶面間距為d,則在出射角為θ的方向,可以觀測到波長為λ=2dsinθ的一級衍射及波長為λ/2, λ/3…… 等高級衍射。改變θ角,可以觀測到另外波長的X射線,因而使不同波長的X射線可以分開。分光晶休靠一個晶體旋轉機構帶動。因為試樣位置是固定的,為了檢測到波長為λ的熒光X射線,分光晶體轉動θ,檢測器必須轉動角。也就是說,一定的角對應一定波長的X射線,連續轉動分光晶體和檢測器,就可以接收到不同波長的熒光X射線。

       

      6.莫斯萊定律

      莫斯萊定律是揭示(黃光水射線彼長或級數)與元素原子序數關系的規律二x譜線頻率的平方根與該元素原子序數成線性關系。 [1] 

      其數學式子為:

      λ=K(Z-s)-2

      式中KS是常數,因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。

       

      7. 普朗克公式

      量子力學知識告訴我們,X 射線具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波??醋髁W訒r的能量和看作電磁波時的波長有著一一對應關系。這就是著名的普朗克公式E=hc/λ。

       

      8.源激發和管激發

      用放射性同位素源發出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀稱為源激發儀器;

      X射線發生器(又稱X光管)產生原級X射線的X熒光分析儀稱為管激發儀器。

       

      9.基本參數法。

      一種常用于X射線熒光技術的計算/校準的算法。它根據原子的基本物理特性,將不同的元素之間的干擾效應也納入了算法中。當分析一個具有高密度的樣本時(比如大多數的金屬材料),這會是一個非常有效的方法。

       

      10.質量衰減系數

      質量衰減系數,亦稱質量吸收系數,是指每平方厘米每克厚的吸收物質(g/cm²),所減少的x線強度的百分數,也即每克質量物質對x射線衰減的程度,單位是cm²/g。

       11.譜線干擾
      待測元素分析線上有其他元素譜線重疊或部分重疊,導致分析結果產生誤差,或該分析線無法用于光譜分析。有三種情況:分析線與干擾線波長基本相同,譜線完全重疊;分析線與干擾線波長相近,譜線部分重疊;分析線落在帶狀光譜上。采用色散率及分辨率高的攝譜儀,可減小或消除譜線干擾。
       
      12.俄歇效應
      俄歇效應(Auger effect)是原子發射的一個電子導致另一個或多個電子(俄歇電子)被發射出來而非輻射X射線(不能用光電效應解釋),使原子、分子成為高階離子的物理現象,是伴隨一個電子能量降低的同時,另一個(或多個)電子能量增高的躍遷過程。
      “俄歇效應”是以其發現者,法國人皮埃爾·維克托·俄歇(Pierre Victor Auger)的名字命名的。
       
      13.X射線熒光
      X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。


      14. 多元素分析儀器
      多元素分析儀器是*的一種綜合材料快速分析儀,可根據要求分別定制成黑色金屬及有色金屬中所有C、S、Mn、等常規元素百分含量的快速分析儀。


      15.脈沖幅度分析器
      脈沖幅度分析器,測量電脈沖信號幅度分布的儀器。它把脈沖信號按幅度的大小進行分類并記錄每類信號的數目。常用于分析射線探測器的輸出信號,測量射線的能譜。
       

       

       

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